吕长志（北京工业大学电子工程学系可靠性研究室，副教授）

吕长志（北京工业大学电子工程学系可靠性研究室，副教授）

1950年生，北京延庆人。副教授，毕业于北京工业大学。现任职于北京工业大学电子工程学系可靠性研究室。主要研究了“功率晶体管峰值结温电学法测量技术”的课题，该成果属于半导体器件测量技术领域。用于测量硅功率晶体管在任何工作条件下的峰值结温(峰值热阻）。它较通常的热阻测试仪给出的器件的平均结温(平均热阻）具有更大的实用价值。该仪器也可用于对功率晶体管热性能的生产监测、成品筛选和可靠性考核。其生产条件等同于一般的电子仪器的生产条件。著有论文《GaAsMES-FET热阻测试仪的研制》、《用标准芯片测量集成电路封装热阻的研究》、《ALGaNVGaN双异质结构道调制掺杂场效质量体管》。